| 【cycle time】 メモリーに対して、読出し命令を出してから次の読出し命令を出せるまでの時間。 |
| 出典: コンピュータ断層撮影 『フリー百科事典 ウィキペディア日本語版(Wikipedia)』 最終更新 2018年10月6日 (土) 04:37 UTC、URL: https://ja.wikipedia.org/ コンピュータ断層撮影（コンピュータだんそうさつえい、英: 、略称：CT）は、放射線などを利用して物体を走査しコンピュータを用いて処理することで、物体の内部画像を構成する技術、あるいはそれを行うための機器。 ・・・ |
| 出典: サイクル・タイム 『フリー百科事典 ウィキペディア日本語版(Wikipedia)』 最終更新 2023年5月23日 (火) 03:52 UTC、URL: https://ja.wikipedia.org/ サイクル・タイム（英: cycle time）とは経営学用語の一つで、連続したライン作業が行われている場合に一つの工程に要する時間のことを言う。これは工程の設計段階や工程がうまく機能していないと思われる時に調べるべく事柄である。たとえば工程Aから工程Bの連続した二つの工程がある場合に、工程Aの所要時間が4分で工程Bが2分の場合、工程Bでは工程Aの終了を待ってから作業に取り掛かるということになり、この場合では工程Bでは2分を待機で無駄にしており実質は2分しか作業をしていないがサイクル・タイムでは4分ということになる。だがこの場合に工程Aの設備を2倍に増やすことで工程Bには2分間隔で送ることができるようになり、工程Bも時間を最大限に活用できるようになるため、工程Aと工程Bの双方のサイクル・タイムは2分に縮むということになる。 |
| 出典: x64 『フリー百科事典 ウィキペディア日本語版(Wikipedia)』 最終更新 2018年12月22日 (土) 14:13 UTC、URL: https://ja.wikipedia.org/ x64またはx86-64とは、x86アーキテクチャを64ビットに拡張した命令セットアーキテクチャ。実際には、AMDが発表したAMD64命令セット、続けてインテルが採用したIntel 64命令セット（かつてIA-32eまたはEM64Tと呼ばれていた）などを含む、各社のAMD64互換命令セットの総称である。x86命令セットと互換性を持っていることから、広義にはx86にx64を含む場合がある。なお、インテルはIntel 64の他にIA-64の名前で64ビット命令セットアーキテクチャを開発・展開しているが、これはx64命令セット、x86命令セットのいずれとも互換性がない。 [Intel 64] Intel 64は、IA-32アーキテクチャの64ビット拡張であり、インテルによるAMD64の実装である。 開発経緯 ・・・ インテルは、AMD64互換命令セットの名称を数回 変更した。IDFで用いられた名前はCT(Clackamas Technology)、その数週間後にIA-32e(IA-32 extensions)と呼称を変更し、2004年4月にはこれを EM64T(Extended Memory 64 Technology)という名前で公式に発表した。製品リリース後の2006年7月27日には、インテルはEM64TをIntel 64と改称している。 |
| 同義語・類義語 | 関連語・その他 |
|---|---|
| Coding Test | |
| coding test | |
| component test | |
| CT | |
| Part Test | |
| part test | |
| Program Test | |
| program test | |
| PT | |
| Unit Test | |
| unit test | |
| UT | |
| コンポーネントテスト | |
| システムテスト | |
| ソフトウェアテスト | |
| テスト手法 | |
| モジュールテスト | |
| ユニットテスト | |
| 単体テスト | |
| 単体試験 | |
| 更新日: |
| 同義語・類義語 | 関連語・その他 |
|---|---|
| Computed Tomography | 断層画像 |
| Computed tomography | 断層撮影 |
| Computer Tomography | 断層写真術 |
| Computer Tomography Scanner | 断面画像 |
| Computerized tomography | 輪切り |
| CT | |
| CTスキャナ | |
| CTスキャナー | |
| CT検査 | |
| EMIスキャナー | |
| X線CT | |
| X線CT検査 | |
| X線コンピュータ断層撮影 | |
| コンピューター断層撮影 | |
| コンピュータ断層撮影 | |
| コンピュータ断層撮影法 | |
| コンピューティドゥ・トゥモグラフィー | |
| コンピューテッド・トモグラフィー | |
| ファンビームCT | |
| 更新日:2020年11月29日 |
| 同義語・類義語 | 関連語・その他 |
|---|---|
| CT | |
| Current Tranformer | |
| 変流器 | |
| 更新日: |
| 同義語・類義語 | 関連語・その他 |
|---|---|
| CT | |
| cycle time | |
| sáikl táim | |
| サイコルゥ タゥーイム | |
| サイコルゥ・タゥーイム | |
| サ́イコルゥ・タゥ́ーイム | |
| サイクル タイム | |
| サイクル・タイム | |
| サ́イクル・タ́イム | |
| サイクルタイム | |
| サイクル時間 | |
| 循環時間 | |
| じゅんかん じかん | |
| ・ | |
| pitch time | |
| pítʃ táim | |
| ピィッチ・タゥーイム | |
| ピィッ́チ・タゥ́ーイム | |
| ピッチ・タイム | |
| ピッ́チ・タ́イム | |
| ・ | |
| clock time | |
| klɑ́k táim | |
| クラォック タゥーイム | |
| クラォック・タゥーイム | |
| クラォッ́ク・タゥ́ーイム | |
| クロック タイム | |
| クロック・タイム | |
| クロッ́ク・タ́イム | |
| クロック周期 | |
| ・ | |
| 更新日:2025年 3月10日 |
| 同義語・類義語 | 関連語・その他 |
|---|---|
| EM64T | 64ビット拡張機能 |
| AMD64互換命令セット | AMD64 |
| Clackamas | AMD64アーキテクチャ |
| Clackamas Technology | IA-64 |
| CT | Xeon |
| Extended Memory 64 Technology | Xeon 5500番台 |
| Extension Memory 64 Technology | Xeon E5系 |
| IA-32 Extensions | Yamhill |
| IA-32 extensions | ジーオン |
| IA-32E | ジオン |
| IE-32e | |
| Intel 64 | |
| Intel 64 Technology | |
| Intel 64テクノロジー | |
| x64 | |
| x64 Edition | |
| x86-64 | |
| x86プロセッサの64ビット拡張アーキテクチャ | |
| イーエムろくよんティー | |
| エクステンデッド・メモリ64テクノロジ | |
| エックス64 | |
| クラゥェカゥマゥス・テクナラゥジィー | |
| クラカマス・テクノロジー | |
| 更新日:2021年10月21日 |
| 同義語・類義語 | 関連語・その他 |
|---|---|
| 結合テスト | イ́ンタゥーフェ̀イス・テ́ストゥ |
| 結合試験 | インターフェース・テスト |
| けつごう しけん | イ́ンターフェ̀ース・テ́スト |
| 統合テスト | ・ |
| 統合試験 | |
| とうごう しけん | 【 以下関連語 】 |
| ・ | CT |
| IT | Combined Test |
| ái tíː | kəmbáind tést |
| アイ ティー | カゥンバーインドゥ・テストゥ |
| ア́イ ティ́ー | カゥンバ́ーインドゥ・テ́ストゥ |
| ・ | コンバインドゥ・テスト |
| Integration Testing | コ́ンバインドゥ・テ́スト |
| ìntəgréiʃən téstiŋ | サブシステム間結合テスト |
| イェンテグレイシュョン テスティング | モジュール間結合テスト |
| イェンテグレイシュョン・テスティング | 複合試験 |
| イェ̀ンテグレ́イシュョン・テ́スティング | 複合テスト |
| インテグレーション テスティング | (和製英語) |
| インテグレーション・テスティング | ・ |
| イ̀ンテグレ́ーション・テ́スティング | JT |
| ・ | Join Test |
| Integration Test | dʒ́ɔin tést |
| ìntəgréiʃən tést | ジョイェン・テストゥ |
| イェンテグレイシュョン・テストゥ | ジョ́イェン・テ́ストゥ |
| イェ̀ンテグレ́イシュョン・テ́ストゥ | ジョイン・テスト |
| インテグレーション・テスト | ジョ́イン・テ́スト |
| イ̀ンテグレ́ーション・テ́スト | 接合試験 |
| ・ | 接合テスト |
| Interface Testing | (和製英語) |
| íntərfèis téstiŋ | ・ |
| インタゥーフェイス テスティング | LT |
| インタゥーフェイス・テスティング | Link Test |
| イ́ンタゥーフェ̀イス・テ́スティング | líŋk tést |
| インターフェース テスティング | リゥィンク・テストゥ |
| インターフェース・テスティング | リゥィ́ンク・テ́ストゥ |
| イ́ンターフェ̀ース・テ́スティング | リンク・テスト |
| ・ | リ́ンク・テ́スト |
| Interface Test | 連結試験 |
| íntərfèis tést | 連結テスト |
| インタゥーフェイス・テストゥ | (和製英語) |
| 更新日:2025年 3月 8日 |